熱膨脹是組件設(shè)計(jì)中必須考慮的另一個(gè)重要的溫度效應(yīng)。
在整個(gè)組件從硅片開(kāi)始到電站組件安裝后各個(gè)環(huán)節(jié)都會(huì)存在隱裂問(wèn)題，如不能提前發(fā)現(xiàn)，隱裂材料制造出來(lái)的組件將會(huì)造成非常大的損失，EL檢測(cè)儀及電池片分選機(jī)就是在這一個(gè)過(guò)程中進(jìn)行內(nèi)部缺陷的測(cè)試，包含虛焊，斷柵，隱裂，低效率片，邊緣漏電，過(guò)刻等問(wèn)題
使用應(yīng)力消除環(huán)，以調(diào)節(jié)由于溫度增加而產(chǎn)生的電池之間的膨脹。
在電池之間要努力地增加一個(gè)δ的空間，由下式給出：
這里：
aG aC 除了連接應(yīng)力，全部組件界面承受著與溫度有關(guān)的循環(huán)應(yīng)力，最終可能導(dǎo)致分層。
分別是玻璃和電池的膨脹系數(shù)；
D 是電池寬度；
C 是電池中心距離。
一般使用應(yīng)力消除環(huán)連接太陽(yáng)電池，最小化了周期應(yīng)力。使用雙重連接，以防止由于這樣的應(yīng)力引起的疲勞失效的可能。
除了連接應(yīng)力，全部組件界面承受著與溫度有關(guān)的循環(huán)應(yīng)力，最終可能導(dǎo)致分層。
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